Fejlanalyse

Mikroslib til fejlfinding

Hos DELTA tilbyder vi fejlanalyse på mikroelektronikkomponenter.

Vi har opbygget et laboratorium af specialudstyr og kan udføre både destruktive og ikke-destruktive analyser, røntgen, skanning elektron mikroskopi (SEM), skanning akustisk mikroskopi (SAM).

Har du brug for hurtigt fejlfinding?

Du kan hurtigt og effektivt få detekteret hovedårsagen til ethvert problem, hvad enten det drejer sig om at holde et ASIC-projekt på sporet eller at finde en fejl, som er opstået undervejs.

Vi kan bl.a. hurtigt og effektivt afklare:

• Skyldes fejlen aspekter i fremstillingsprocessen?
• Skyldes fejlen håndteringsproblemer i processen?
• Skyldes fejlen svagheder i designet?

Fejlanalyselaboratoriet benyttes både af producenter af integrerede kredse, brugere af integrerede kredse samt af DELTA's egne ASIC-designudviklere.

Våben mod reverse-engineering

Særligt integrerede kredse beregnet til økonomisk- eller sikkerhedsrelaterede applikationer kan have gavn af vores massive viden som våben mod enhver trussel af reverse-engineering.

Nedenfor ses et udvalg af vores serviceydelser:

• Mikroslib
• Real time røntgen
• Hot spot analyse
• Lodningstest
• Sub-micron probing
• Kemisk- og plasmaætsning
• Skanning Elektron Mikroskopi (SEM)
• Skanning Akustisk Mikroskopi (SAM)
• Energi Dispersiv Analyse (EDA) af røntgenstråling
• Helium fine leak test af røntgenstråling
• Gross leak bubble test af røntgenstråling
• Mørkfelt belysning
• Almindelig pålys belysning
• Stereomikroskopi
• Miljøtest (temperatur, chok, fugt, korrosion, vibration)

DELTA har også adgang til andet specialudstyr såsom Focused Ion Beam (FIB) via vores samarbejdspartnere.

Hvis din integrerede kreds har et problem, så kontakt DELTA's  fejlanalyseafdeling, som vil kunne rådgive om hvilken teknik, der skal til for at løse problemet.